AT256全品種集成電路測試儀
最大測試管腳數(shù):256
測試適用范圍： 元器件測試-適用于所有類型的集成電路的測試和元器件的篩選測試
電路板測試-適用各種電路板的檢測（附加測試電纜線和各種封裝的測試夾）
測試原理（v-i曲線測試）：
對元器件的每個管腳施加一個安全的低功率的掃描驅(qū)動信號，產(chǎn)生一個阻抗特征圖，以備對比和存儲。
被測器件和數(shù)據(jù)庫中標準動態(tài)阻抗圖相比對，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。
測試信號可設(shè)定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率?？筛鶕?jù)需要進行調(diào)整以便得到準確的信息。
集成電路測試操作如此簡單:
1.從數(shù)據(jù)庫選擇要測試的集成電路型號.
2.將集成電路插入測試座.
3.執(zhí)行測試
4.得到PASS或FAIL的測試結(jié)果.
商品輸入檢驗
不需要電子專業(yè)知識.
適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板
靈活、好安裝、宜操作.
測試結(jié)果直接: PASS或FAIL.
軟件可設(shè)定各種測試條件.
可提供完整的元件測試分析報告.
適合不同封裝形式的元件:
-雙列插腳(DIL)
-小型封裝集成集成電路(SOIC)
-小型封裝(SSOP, TSOP)
-塑料無引線芯片載體封裝(PLCC)
-四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)
-球門陣列封裝(BGA)
注意:AT系列不受限于只能測試電子集成電路, 也可用于整個模塊。
測試通道
標準提供多達128個測試通道, 可設(shè)定用于不同的元器件封裝。
升級模塊：64通道
可擴充到192/256個測試通道。
用兩種模式掃瞄:
•一般模式: 掃描信號是以一固定管腳為參考點, 測試信號施加到待測元器件上。
•矩陣模式: 掃描信號是以元器件的各個管腳為參考點, 測試信號循環(huán)組合施加到待測元器件上。
通用型PLCC轉(zhuǎn)接器(用于測試有20～84腳的PLCC封裝)
數(shù)據(jù)庫
用戶可根據(jù)自己的需要，用性能完好的器件創(chuàng)建ic的測試數(shù)據(jù)庫，以備日后測試使用。創(chuàng)建一個測試庫僅需要數(shù)秒的操作時間，操作十分簡單容易。
結(jié)果比較型式:
將數(shù)據(jù)庫中的IC與待測ic的V-I曲線相比較, 即可判定被測IC的好壞,提供兩種比較型式:
•與數(shù)據(jù)庫中元件比較: 被測IC的V-I曲線與數(shù)據(jù)庫中的相同型號的IC比較
• 被測IC之間比較比較: 多個集成電路的之間的V-I曲線相比較。
軟件- 靈活性
1)軟件提供測試庫圖形化修改功能，以方便用戶制作不同新封裝形式器件的測試庫,
2)軟件可以自定義各個通道的使用，一臺機器可以同時檢測多個器件
報告
1）軟件可產(chǎn)生一詳細的測量報告, 包含集成電路相片。這份報告可用于深入分析好壞集成電路的差異具體原因。
2）用戶可處理集成電路的各種信息; 集成電路的動態(tài)阻抗圖可儲存在pc中，并可隨時讀出, 以與新的掃瞄阻抗圖作比較。
3）為了今后使用方便, 可在集成電路的存儲數(shù)據(jù)文件夾內(nèi)增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字與電子表格。
針印(PinPrint)動態(tài)阻抗詳細分析元件的管腳.
定制化的報告(PinPrint).
轉(zhuǎn)接器
1）標準型:
用于SOIC、SSOP、TSOP及PLCC封裝; 也有提供AT系列校正工具組。
標準SOIC轉(zhuǎn)接器
通用型:
用于SOIC及PLCC封裝; 一個轉(zhuǎn)接器即適用于各種芯片尺寸, 測試有20、28、32、44、52、68、84腳的集成電路。
一個轉(zhuǎn)接器即適用于測試寬0.15”～0.6”達44腳的集成電路。
客制型:
可訂制各種封裝的轉(zhuǎn)接器, 包括: BGA、QFP; 請進一步洽詢, 以設(shè)計符合您需求的轉(zhuǎn)接器。
BGA插座轉(zhuǎn)接器
技術(shù)規(guī)格
技術(shù)參數(shù):AT256
| 掃描測試波形 | 正弦波,鋸齒波，三角波 |
| 掃描測試頻率 | 6種頻率供選擇:100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz |
| 掃描電壓(Vs) | 4種峰值電壓選擇:-20~+20V 步進0.1V |
| 掃描源電阻(Rs) | 3種電阻供選擇:1kΩ, 10kΩ,100kΩ |
| 掃描通道 | AT128通道數(shù)量:128通道
AT192通道數(shù)量:192通道
AT256通道數(shù)量:256通道
顯示模式:VI曲線圖
掃描模式:手動或連續(xù), 或自行設(shè)定掃描次數(shù) |
| 掃瞄模式 | 一般模式:掃描信號是以一固定管腳為參考點,測試信號施加到待測元器件上.
矩陣模式:掃描信號是以元器件的各個管腳為參考點,測試信號循環(huán)組合施加到待測元器件上. |
| 電腦連接 | USB
連接電腦使用,標準配置含上位機軟件 |
| 適合不同封裝形式元件: | 適合不同封裝形式的元件:
-雙列插腳(DIL)
-小型封裝集成集成電路(SOIC)
-小型封裝(SSOP, TSOP)
-塑料無引線芯片載體封裝(PLCC)
-四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)
-球門陣列封裝(BGA)
注意:AT系列不受限于只能測試電子集成電路, 也可用于整個模塊及電路板。 |
| 測試報告 | 可自行編輯測試報告 |
| 功率需求 | 線路電壓:85～264VAC
頻率:47～63Hz
功率:最大150W |
| 尺寸/重量 | 尺寸:27x25x9cm;重量:3.5kg |
| 操作溫度.濕度 | 溫度:10°C～30°C濕度: 20～80% RH。 |
| 保修期 | 一年 |
| 認證 | CE認證& RoHS合格。 |
| 計算機規(guī)格需求 | Microsoft Windows XP或Vista, Pentium 4或更高
最小的RAM:512 MB
硬盤空間:200MB
USB2.0高速傳輸
鼠標,鍵盤與屏幕 |
| 標準配件: | 用戶手冊。
USB導(dǎo)線。
軟件CD(含驅(qū)動程序與操作手冊)。 |
| 選購配件: | 校正工具組。
各種轉(zhuǎn)接器。 |
最大測試管腳數(shù):256
測試適用范圍：
元器件測試-適用于所有類型的集成電路的測試和元器件的篩選測試
電路板測試-適用各種電路板的檢測（附加測試電纜線和各種封裝的測試夾）
