英國ABI-BM8500電路故障測試儀
http://www.gdcheng.com/集成電路及電路板的標準測試功能
數(shù)字及模擬集成電路的功能測試
動態(tài)及靜態(tài)測試
適合單點量測
自動化測試程序
可由使用者設(shè)計的操作軟件
對于現(xiàn)今電子業(yè)界的快速變化，求新、求變的市場需求特性，無論是工作在設(shè)計，生產(chǎn)，試驗或故障的情況都在向電子工程師提出了各項的挑戰(zhàn)。電子電路變得更快，更小，更便宜和更復(fù)雜。在測試和維修的成本效益也變得相對性的提高很多。因此，您的測試設(shè)備是否能因應(yīng)你的需求，而來挑戰(zhàn)這一連串爆發(fā)性的技術(shù)改革變化。如果你了解到的這個問題，你已在尋求解決方式的路上了
盡管目前的電子技術(shù)日新月異，但其故障情形的基本性質(zhì)仍是相同的。故障的集成電路(ICs) 它會無法正常動作的.，故障的二極管會呈現(xiàn)開路或短路的狀態(tài)，故障的電容器有時會呈現(xiàn)短路的故障現(xiàn)象?，F(xiàn)今會造成電路板上焊橋的情況跟10年前的是相同的情形。但今天我們必須快速的找到這些故障點。 “具高經(jīng)濟效益的維修工作” 的重心并不在于能不能修復(fù)電路板，而是在于需要花費多少的時間以及人力來修復(fù)一片電路板。
以經(jīng)濟學(xué)來說，維修費用也必需包括其測試設(shè)備。而 BM8500在其廣泛的應(yīng)用上具有相當高的成本效益。它包含了一個完整的高規(guī)格儀表控制軟件，且易于工程師來操作應(yīng)用。硬件是安裝在一個堅固的機箱內(nèi)，并包含了一個高規(guī)格且以微軟的Windows為操作系統(tǒng)的PC。而BM8500是一個模塊化系統(tǒng)，因此可以為特定應(yīng)用進行客制化的配制。
數(shù)字集成電路測試功能模塊(BFL)
在BM8500中提供了兩個數(shù)字集成電路功能測試模塊,其具有128個量測通道,可提供多種的量測功能.這些通道可提供全面性故障診斷能力,包括數(shù)字集成電路功能測試(在線/離線測試).集成電路接腳的連接狀態(tài)和電壓值的量測,并連同在無電源供給的情形下使用的VI曲線的測試功能
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模擬集成電路測試功能模塊 (AICT)
在模擬集成電路測試儀中允許模擬集成電路和分立集成電路 (Discrete Components)進行功能測試。所有常見的模擬集成電路皆可以測試，系統(tǒng)會依照集成電路在PCB上的電路型態(tài)來作功能測試，不需要編輯程序或參考電路圖。在AICT模塊中還包括了完整的V-I曲線測試功能，電路板或集成電路可在無電源供給的情形下，得到清楚易懂的圖形化測試結(jié)果
綜合型基礎(chǔ)儀表模塊 (MIS)
在MIS儀表模塊中，提供了多種高規(guī)格的測試及量測用的儀表功能在同一模塊之中。此種設(shè)計方式，適合用于教育及一般用途的電子量測使用。其模塊提供了頻率/事件計數(shù)器，數(shù)字存儲式示波器，信號產(chǎn)生器，雙信道的數(shù)字電表，固定式電源供應(yīng)器及通用型的I/O接口。且操作者可以利用軟件的自定儀器平臺功能，來設(shè)計客制化的儀器操作接口。
數(shù)字可調(diào)式電源供應(yīng)器模塊 (VPS)
此模塊可提供集成電路或電路板在進行測試時所必要的電源。其具有三組可調(diào)式電源輸出，并同時具有過電壓及過載保護功能。
培訓(xùn)用電路板
一個訓(xùn)練有素的工程師會比一位新手在工作上來的有效率，這是眾所皆知的. 對于ABI的測試產(chǎn)品，為了讓ABI的客戶能夠有效的利用ABI的產(chǎn)品設(shè)備，其關(guān)鍵點就是要讓使用者認識它所有的功能。就是因為抱持著這種態(tài)度，ABI已針對所有的客戶開發(fā)出完整的培訓(xùn)方式.
這個方式是針對BM8500此產(chǎn)品特別設(shè)計的電路板為平臺. 經(jīng)由電路板上不同的控制功能，來提供不同的故障現(xiàn)象，讓使用者學(xué)習(xí)到電子學(xué)的原理和獲取電路修復(fù)的知識技術(shù). ABI已提供培訓(xùn)人員一份以測試程序 (TestFlow)的形式所呈現(xiàn)的指南，內(nèi)容包含了詳細的說明及解釋.
此培訓(xùn)方式已在業(yè)界被廣泛的使用，其好處是在于用戶可以用自己的步調(diào)來培訓(xùn)自己或是工程人員，而可由此來應(yīng)用在其它的更廣泛的工作類型上. 而此培訓(xùn)方式也是許多在世界各地的大學(xué)或是技術(shù)學(xué)院教育課程的一部份.
Digital IC Test 數(shù)字集成電路測試功能
具128個量測信道 (64信道X2組模塊). 八組輸出隔離信號. 一組5V / 5A的電源供給輸出. 可進行集成電路的功能測試、電壓量測、接腳連接測試、溫度指數(shù)及V-I曲線量測. 內(nèi)建邏輯時序信號量測功能、EPROM 數(shù)據(jù)比對功能、數(shù)字集成電路搜尋功能等. 并可針對數(shù)字邏輯位準進行調(diào)整，另外可自動定位集成電路接腳及電路狀態(tài)比對功能.
Analogue IC Test 模擬集成電路測試功能
具有24組測試信道及外加一組的分離集成電路測試信道. 內(nèi)建集成電路數(shù)據(jù)庫可量測模擬放大器、比較器、光耦合器、晶體管、二極管及特殊功能的集成電路. 可針對模擬集成電路進行功能測、連接狀態(tài)測試及電壓量測. 并具有自動定位集成電路接腳及電路狀比對功能.
Digital V-I Test 數(shù)字式V-I曲線測試功能
具128 量測信道 (64信道X2個模塊). 可調(diào)整量測信號電壓范圍. 針對數(shù)字集成電路可達到有效的量測結(jié)果.
Analogue V-I Test 模擬式V-I曲線測試功能
具有24 量測通道及外加二組獨立量測通道. 其具有可調(diào)頻率、可調(diào)電壓、可調(diào)輸出阻抗及選擇量測波形功能. 并可選擇波形顯示模式: V-I、V-T及I-T三種顯示模式. 二組同步可變脈寬的信號輸出. 內(nèi)建量測線路補償功能. 具有外接盒可供選配.
Matrix V-I 矩陣式V-I測試功能具有24組矩陣式的量測通道. 單一波形多重顯示的方式，并可直接進行量測波形的比對功能，并以條狀圖的方式來顯示各信道信號的差異百分比.
Graphical Test Generator 數(shù)字時序編輯功能
具有128個信號信道可供編輯數(shù)字時序信號. 每個通道可設(shè)定輸出、輸入及雙向狀態(tài). 并可讀取數(shù)字向量信號、并且儲存之后再進行比對.
Floating Digital Multimeter 雙信道萬用電表功能
具二組自動換文件的量測通道，可量測DC及AC電壓信號達400V，可量測DC及AC電流信號可達2A. 阻抗量測可達20M奧姆. 各信道具有統(tǒng)計功能，可顯示最大值、最小值及平均值. 另外提供一組計算器，可針對所量測到的數(shù)值進行實時的計算并記錄.
Universal I/O 通用型輸出/輸入信道功能
具有四組模擬信號信道及四組數(shù)字信號信道. 模擬信號信道可設(shè)定成為電壓輸出、電壓量測、電流輸出及電流量測四種工作模式. 其電壓范圍為 -9V to +9V，而電流范圍可達20mA. 數(shù)字信號信道可設(shè)定為輸出邏輯HIGH、邏輯LOW或是偵測目前信道的信號邏輯狀態(tài)，其輸出及輸入能力是以TTL位準為標準.
Short Locator 短路電阻量測功能
3具有三段低電阻量測范圍，可以圖示及聲音來判斷目前短路的位置.
Auxiliary Power Supply 固定型電源輸出功能
具三組固定式的電源輸出，分別為: 5V / 0.5A輸出，+9V / 100mA輸出及-9V / 100mA輸出. 各信道都具有電流值監(jiān)測功能.
Variable Power Supply 可調(diào)型電源輸出功能
邏輯電源輸出的可調(diào)電壓范圍為2.5V到6V 并具有過電壓跳脫功能. 另外有可調(diào)式的正負電源輸出，其可電壓可調(diào)范圍為-24V到+24V. 其輸出電流能力可達1A.
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